Micro-Area spectroscopy微区光谱系统

传统的荧光光谱和寿命系统测量的数据不具有空间分辨率,通过微区光谱测量可得到样品精细结构的数据,本系统可在显微镜视野中设置一个AOl(感兴趣区域),并测量此区域中样品的荧光光谱、荧光寿命及荧光图像,实现这三种数据的共定位测量,避免了类似实验中,无法保证三种数据的空间一致性的问题。它具有如下特点∶AOI位置和大小精确可调;无需调校光源位置即可保证空间一致性;具有高空间分辨率

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系统主要构成∶

1.光谱系统∶ PTI QuantMasterTM TimeMasterTM 系列

2.显微平台∶ Nikon系列荧光显微镜(其它品牌亦可)

3.显微光度系统∶ PTI RatioMasterTM 系列荧光光度系统

4.图像采集系统∶ Andor 系列科研级CCD(制冷型、EM放大型)


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主要应用:

空间分辨的各种荧光光谱应用(荧光强度、激发光谱、发射光谱、3D光谱,同步扫描,基于时间的强度等)

空间分辨的各种荧光寿命应用(荧光寿命测量、时间分辨荧光光谱测量)

显微荧光成像的各种应用(如荧光成像、时间序列成像、三色叠加、形态测量等)

共定位测量

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三色荧光叠加


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来自单一的15-微米直径荧光标记乳液滴(左图)和相同的5×5微米乳液滴区域(右图)的荧光衰减