FLIM荧光寿命成像系统

随着CMOS 图像传感器的技术发展 ,像素的调制频率可以达到40MHz,基于这样一个新的CMOS图像传感器,我们开发出了高度集成的频域FLIM相机系统,从而降低了FLIM系统的复杂程度和成本。FLIM 荧光寿命成像系统是一种采用正弦波调制激光器激发样品,通过us 级别的Two-Tap CMOS 成像芯片的荧光寿命成像相机进行ps 级别的样品发光测试系统,通过相机自带的特殊软件能直接进行测量以及寿命数据分析

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主要技术参数

传感器∶ CMOS

分辨率∶1008*1008

像素尺寸∶5.6μmx5.6μm

光谱范围∶VIS

相机帧速∶90fps

调制信号波形∶正弦/方波

AD :14bits

输入可调同步信号∶500KHz-40MHz

输出可调同步信号∶5KHz-40MHz

动态范围∶〉1000∶1(60dB)

功耗∶40w

数据接口∶USB3.0

测荧光寿命∶100ps~100us


细胞蛋白荧光寿命对比试验

70.1.jpg

左边照片显示细胞蛋白FRET实验荧光强度,中间图像显示了在0-4纳秒范围的荧光寿命的相位分布,右边的图像显示的是由无掩模的荧光强度图像加权的寿命分布图像


典型应用

生命科学和化学

FRET 测量

组织分化(自发荧光)

数字病理

细胞内化学参数

光纤化学传感(O2,pH,CO2)

癌症研究/医学研究-分子生物学

分子/蛋白质特性的鉴定与测量

生物材料

药物研究、纳米医学


材料科学和物理学

压力与温度敏感涂料

材料性和荧光/发光性识别

纳米粒子